터치하여 좌우로 움직이세요
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물품목록번호 | 41114508-22760536 |
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| 물품분류번호 | 41114508 | |
| 물품식별번호 | 22760536 | |
| 품명 | 표면검사장치 | |
| 세부품명번호 | 4111450801 (표면분석기) | |
| 세부품명영문명 | Surface analyzers | |
| 단위 | 대 | |
| 내용연수 | 9 | |
| 상품원산지국가명 | 일본(JP) | |
| 품목구분 | 일반용 품목 | |
| 부품여부 | N | |
| 품목등록일 | 2014-09-05 |
터치하여 좌우로 움직이세요
| 모델명 | PHI710 | |||
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| 품목명 | 표면분석기, Ulvac-phi, (JP)PHI710 | |||
| 제조업체명 | Ulvac-phi | |||
| 제품설명 | 초고진공 분위기에서 수백 Angstrom의 크기로 집속된 Electron Beam을 시료 표면에 입사시켜 방출되는 Auger Electron의 에너지를 측정함으로서 재료 표면을 구성하고 있는 원소의 종류 및 양을 분석해내는 장비로서 XPS(ESCA), SIMS(Secondary ion Mass Spectroscopy)와 사용되고 있는 표면분석장비이다(PC포함). | |||
| 속성명 | 속성값 | 측정단위 |
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| 측정방식 | Spectroscopy/AES Imaging/Depth Profile | |
| 검출장치 | MCD | |
| 분해능 | 8nm | |
| 빔조사크기 | 0.000007 | mm |
| 수분가열장치최고온도 | 180 | ℃ |
| 시료크기 | 25~60 | mm |
| 에너지전극원 | FE gun | |
| 조사에너지 | 2500 | eV |
| 측정각도 | 0~30 | ˚ |
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