터치하여 좌우로 움직이세요
|
물품목록번호 | 41114508-21481904 |
|---|---|---|
| 물품분류번호 | 41114508 | |
| 물품식별번호 | 21481904 | |
| 품명 | 표면검사장치 | |
| 세부품명번호 | 4111450801 (표면분석기) | |
| 세부품명영문명 | Surface analyzers | |
| 단위 | 대 | |
| 내용연수 | 9 | |
| 상품원산지국가명 | 대만(TW) | |
| 품목구분 | 일반용 품목 | |
| 부품여부 | N | |
| 품목등록일 | 2008-12-24 |
터치하여 좌우로 움직이세요
| 모델명 | QUANTERA SXM | |||
|---|---|---|---|---|
| 품목명 | 표면분석기, Ulvac-phi, (TW)QUANTERA SXM | |||
| 제조업체명 | Ulvac-phi | |||
| 제품설명 | XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 혹은 ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)로 불려지는 대표적인 표면분석장비로서 반도체, 절연체, 금속, 유기화합물 등의 시료표면층(Surface layer, 약 50-100micron)에 분포되어 있는 원소를 정성 및 정량분석- X-ray microprobe with <9㎛ spatial resolution- High sensitivity electrostatic detection optics- Dual beam charge neutralization- Samples up to 100nm diameter and 25nm thick- Two internal sample parking stations- High performance floating column ion gun- depth profile | |||
| 속성명 | 속성값 | 측정단위 |
|---|---|---|
| 검출장치 | 32 channel MCD | |
| 분해능 | 9 μm | |
| 시료크기 | 100 | nm |
| 종류 | XPS | |
| 표면불순물제거용빔에너지 | 0.49 | eV |
| 옵션/기타 | 조사에너지:0.1-5(ION GUN VOLTAGE )kV |
정보를 불러오는 중입니다
잠시만 기다려주세요