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공통속성정보

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공통속성정보
물품이미지 물품목록번호 41113706-25571218
물품분류번호 41113706
물품식별번호 25571218
품명 반도체검사기
세부품명번호 4111370601 (반도체검사기)
세부품명영문명 Semiconductor testers
단위
내용연수 11
상품원산지국가명 미국(US)
품목구분 일반용 품목
부품여부 Y
품목등록일 2024-10-21

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공통속성정보2
모델명 S300-Stage
품목명 반도체검사기, Cascade microtech, (US)S300-Stage, (부품)Auto Control Stage
제조업체명 Cascade microtech
제품설명 1. Mapping Program에 따라 300mm 영역을 움직여 원하는 위치에 Probing 해야한다. 2. 계측기 측정후 Z up/down을 자유롭게 할수 있어야 한다. 3. Index,Scan,Jog의 모든 기능을 지원하여야 한다.

개별속성정보

개별속성정보
속성명 속성값 측정단위
전압측정규격 -1.5~10V
종류 반도체소자측정 Probe Station
표시방식 디지털
무게 1500 kg
시험방식 탐침식(Probe Station)
용도 반도체소자측정
장비크기(깊이) 1800 mm
장비크기(폭) 1900 mm
장비크기(높이) 1500 mm
전류측정크기 50fA
측정주파수 150kHz-8GHz
사용전압 220 V
옵션/기타 Auto Control Stage
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