터치하여 좌우로 움직이세요
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물품목록번호 | 41113706-25571217 |
|---|---|---|
| 물품분류번호 | 41113706 | |
| 물품식별번호 | 25571217 | |
| 품명 | 반도체검사기 | |
| 세부품명번호 | 4111370601 (반도체검사기) | |
| 세부품명영문명 | Semiconductor testers | |
| 단위 | 개 | |
| 내용연수 | 11 | |
| 상품원산지국가명 | 미국(US) | |
| 품목구분 | 일반용 품목 | |
| 부품여부 | Y | |
| 품목등록일 | 2024-10-21 |
터치하여 좌우로 움직이세요
| 모델명 | S300-HC Chuck | |||
|---|---|---|---|---|
| 품목명 | 반도체검사기, Cascade microtech, (US)S300-HC Chuck, (부품)Hot & Cold Chuck | |||
| 제조업체명 | Cascade microtech | |||
| 제품설명 | 1. Low Leakage Current DC Parametric Test 2. Hot and Cold Stress test (-40~300℃) | |||
| 속성명 | 속성값 | 측정단위 |
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| 종류 | 반도체소자측정 Probe Station | |
| 표시방식 | 디 | |
| 무게 | 350 | kg |
| 시험방식 | 탐침식(Probe Station) | |
| 용도 | 반도체소자측정 | |
| 장비크기(깊이) | 800 | mm |
| 장비크기(폭) | 700 | mm |
| 장비크기(높이) | 550 | mm |
| 전류측정크기 | 50fA | |
| 사용전압 | 220 | V |
| 옵션/기타 | Hot & Cold Chuck |
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