터치하여 좌우로 움직이세요
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물품목록번호 | 41113706-25544633 |
|---|---|---|
| 물품분류번호 | 41113706 | |
| 물품식별번호 | 25544633 | |
| 품명 | 반도체검사기 | |
| 세부품명번호 | 4111370601 (반도체검사기) | |
| 세부품명영문명 | Semiconductor testers | |
| 단위 | 대 | |
| 내용연수 | 11 | |
| 상품원산지국가명 | 일본(JP) | |
| 품목구분 | 일반용 품목 | |
| 부품여부 | N | |
| 품목등록일 | 2024-09-24 |
터치하여 좌우로 움직이세요
| 모델명 | NP8000 | |||
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| 품목명 | 반도체검사기, Hitachi high-tech, (JP)NP8000 | |||
| 제조업체명 | Hitachi high-tech corporation | |||
| 제품설명 | ||||
| 속성명 | 속성값 | 측정단위 |
|---|---|---|
| 전압측정규격 | 0.1~30kV | |
| 종류 | 반도체소자측정 Probe Station | |
| 무게 | 1010 | kg |
| 시험방식 | 탐침식(Vacuum Probe Station) | |
| 용도 | 반도체소자측정 | |
| 장비크기(깊이) | 1600 | mm |
| 장비크기(폭) | 1260 | mm |
| 장비크기(높이) | 1760 | mm |
| 전류측정크기 | 200nA | |
| 사용전압 | 220 | V |
| 옵션/기타 | 프로브유닛 : 8개, 시료사이즈 : 15mm x 15mm or smaller(1mm thick or less), 구동방식 : Piezoelectric |
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