표면분석기 |
주로 금속 재료 표면의 원소 분석 및 화학적인 결합상태의 분석을 위한 기기로, 초진공 안에서 X선이나 전자파를 시료에 쪼였을 때 튀어 나오는 광전자를 검출하여 그 상태를 분석하거나 배열크기, 배열 상태 등을 시험하는 기기를 말하며, 주로 신물질의 화학 결합상태, 반도체 표면의 원소상태 등을 시험 분석함. |
사상성측정기 |
금속의 피막 표면에 대면하는 물체의 상을 그리는 피막 표면의 성능을 말하며, 피막 표면에 줄이 있는 경우 이 줄에 대한 직각 방향과 평행 방향의 사상성은 다르게 나타남. 이러한 측정 방법에는 시감 측정법과 기기 측정법이 있음. |