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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, AFM Control Electronics, (부품)AFM controller
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, PCM, Photo Current Mapping, (부품)PCM 080-1020
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, 50㎛ XY Scanner, (부품)010-0262-1
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, 100㎛ XY Scanner, (부품)010-0274-1
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, Stand-alone Acoustic Enclosure, (부품)080-3203
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, AVI, Active Vibration Isolation, (부품)AVI 780-1420
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, SICM Head Module for NX, (부품)010-0139-1
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, Photo Ionizer, (부품)080-1981
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, Clip-type Probehand for NX, (부품)NX 700-0939
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주사탐침현미경
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주사탐침현미경, 파크시스템스, Scanning Capacitance Microscopy, (부품)SCM 080-0306
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